Espectroscopía de Fotoelectrones por Rayos X / Sistema de Espectroscopía Specs FlexPS
El FlexPS-CIENUC, marca SPECS (Berlín, Alemania) es un sistema de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos-X que permite obtener información superficial (pocos nanómetros) de la composición química y de estados de oxidación de una muestra. Está equipado con una fuente de rayos-X de doble ánodo XR 50 (Al/Ag), un monocromador FOCUS 500 y un analizador hemisférico Phoibos 150.
XPS es una técnica de ultra alto vacío (UHV), por lo que se aplican las restricciones comunes a estas condiciones.
Este equipo fue adquirido gracias al financiamiento de FONDEQUIP EQM 170087.
Es posible el estudio de diversos materiales, como polímeros, óxidos, aleaciones metálicas, semiconductores, vidrios, cerámicas y bio-materiales, entre otros.
Las muestras a analizar pueden presentarse en polvo, depósito, lámina o como un trozo de material.
Especificaciones técnicas
- Fuentes de rayos-X XR50M con doble ánodo.
- Ánodo de Ag con radiación Kα en 2984.30 eV y ánodo de Al con radiación Lα en 1486.71 eV.
- Monocromador de rayos-X FOCUS 500.
- Analizador Phoibos 150 con detector 1D-DLD.
- Cañón de inundación de electrones FG 15/40 para compensación de carga.
- Sistema de vacío de bomba iónica, sublimación y turbomolecular.
- Precámara para montaje de muestras.
- Presión precámara: < 1 x 10-8 mbar
- Presión cámara de análisis: ~2 x 10-10 mbar
- Portamuestras con 4 grados de libertad (X,Y,Z,Tilt).
- Ángulo incidencia rayos-X: 54,7°. Ángulo de detección 90°.
- Ángulo de inclinación muestra: 0° – 75°.
- Cámara de vacío de acero inoxidable.
Tarifas
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Puede ingresar una orden de trabajo en el siguiente formulario: Solicitud ODT
Para más información, cotizaciones u otras consultas, contactar a Álvaro Adrián al correo fesemcien@uc.cl o al teléfono (56-9) 5504 1441, horario de atención de lunes a viernes de 09:00 a 13:00 y de 14:00 a 18:00.
Ubicación
Laboratorio CIEN-UC XPS
