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Espectroscopía de Fotoelectrones por Rayos X / Sistema de Espectroscopía Specs FlexPS

El FlexPS-CIENUC, marca SPECS (Berlín, Alemania) es un sistema de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos-X que permite obtener información superficial (pocos nanómetros) de la composición química y de estados de oxidación de una muestra. Está equipado con una fuente de rayos-X de doble ánodo XR 50 (Al/Ag), un monocromador FOCUS 500 y un analizador hemisférico Phoibos 150.

XPS es una técnica de ultra alto vacío (UHV), por lo que se aplican las restricciones comunes a estas condiciones.

Este equipo fue adquirido gracias al financiamiento de FONDEQUIP EQM 170087.
Es posible el estudio de diversos materiales, como polímeros, óxidos, aleaciones metálicas, semiconductores, vidrios, cerámicas y bio-materiales, entre otros.
Las muestras a analizar pueden presentarse en polvo, depósito, lámina o como un trozo de material.


Especificaciones técnicas

  • Fuentes de rayos-X XR50M con doble ánodo.
  • Ánodo de Ag con radiación Kα en 2984.30 eV y ánodo de Al con radiación Lα en 1486.71 eV.
  • Monocromador de rayos-X FOCUS 500.
  • Analizador Phoibos 150 con detector 1D-DLD.
  • Cañón de inundación de electrones FG 15/40 para compensación de carga.
  • Sistema de vacío de bomba iónica, sublimación y turbomolecular.
  • Precámara para montaje de muestras.
  • Presión precámara: < 1 x 10-8 mbar
  • Presión cámara de análisis: ~2 x 10-10 mbar
  • Portamuestras con 4 grados de libertad (X,Y,Z,Tilt).
  • Ángulo incidencia rayos-X: 54,7°. Ángulo de detección 90°.
  • Ángulo de inclinación muestra: 0° – 75°.
  • Cámara de vacío de acero inoxidable.

Tarifas
Consultar tarifas aquí
Puede ingresar una orden de trabajo en el siguiente formulario: Solicitud ODT

Para más información, cotizaciones u otras consultas, contactar a Álvaro Adrián al correo fesemcien@uc.cl o al teléfono (56-9) 5504 1441, horario de atención de lunes a viernes de 09:00 a 13:00 y de 14:00 a 18:00.

Ubicación
Laboratorio CIEN-UC XPS

XPS