Servicios
Plataforma Centralizada de Caracterización Avanzada CIEN-UC
FESEM – Microscopía electrónica de barrido de alta resolución
El FEI Quanta FEG250, es un microscopio electrónico de barrido con cátodo de emisión de campo (FESEM) de alta resolución. Está equipado con un detector de electrones retrodispersados, un detector de electrones transmitidos (STEM) y un sistema de análisis elemental por dispersión de energía de rayos X (EDS).
Espectroscopía de Fotoelectrones por Rayos X / Sistema de Espectroscopía Specs FlexPS
El FlexPS-CIENUC, marca SPECS (Berlín, Alemania) es un sistema de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos-X que permite obtener información superficial (pocos nanómetros) de la composición química y de estados de oxidación de una muestra.
Espectrómetro micro-Raman Confocal – AFM
El microscopio Witec alfa 300, incorpora las características del sistema de microscopía Raman para obtener imágenes químicas potentes junto con la microscopía de fuerza atómica para la caracterización de superficies a nano-escala de alta resolución.