Equipamiento
Microscopio electrónico de barrido de alta resolución (FE-SEM) con Litografía Electrónica y EDS
El microscopio FEI-Quanta 250 FEG está equipado con un cátodo de emisión de campo tipo Schottky, lo que permite obtener imágenes de alta resolución en modos de alto y bajo vacío, así como en modo ambiental (ESEM). Esto posibilita el análisis de muestras no conductoras y/o especímenes hidratados. Además, este equipo permite la observación de muestras en modo de transmisión (STEM) y la adquisición de imágenes de electrones retrodispersados (Backscattering), obteniendo contraste por peso atómico gracias al detector concéntrico. También es posible realizar microanálisis de composición elemental mediante dispersión de energías de rayos X (EDS). Asimismo, el microscopio está equipado con un módulo que permite realizar litografía con haz de electrones (EBL).
Espectrómetro de Fotoelectrones emitidos por rayos X (XPS)
El FleXPS de SPECS es un espectroscopio equipado con un analizador de energía hemisférico modelo PHOIBOS 150 con detector 1D-DLD y una fuente de rayos X monocromática de doble ánodo (Ag/Al) modelo FOCUS 500, lo que permite tomar espectros con alta resolución en energía. Además, el equipo cuenta con un cañón de inundación que facilita la realización de mediciones en muestras conductoras e aislantes, permitiendo obtener información detallada sobre la composición elemental y el estado de oxidación de superficies.
Microscopio Confocal Raman – AFM
El microscopio WITec Alpha 300 integra las características avanzadas del sistema de espectroscopía Raman con la microscopía de fuerza atómica. El espectrómetro permite analizar los estados vibracionales de las muestras y, gracias a su óptica confocal, realizar mapeos micrométricos y obtener imágenes Raman 2D de alta resolución. El sistema opera con longitudes de onda seleccionables de 532 nm y 785 nm, con intensidad ajustable. El microscopio de fuerza atómica acoplado permite la caracterización topográfica con resolución nanométrica. Ambas técnicas combinadas facilitan la obtención de imágenes correlativas con información química y topográfica, sin requerir preparación de la muestra y siendo mínimamente invasivas.
Equipamiento en laboratorios asociados al CIEN-UC
El CIEN-UC, gracias a la relación entre las facultades de Ingeniería, Física y Química; cuenta con una variedad de equipos de investigación que le permiten desarrollar investigaciones en diversos campos relacionados con la Nanotecnología y la Ciencia de Materiales.
Algunos de estos equipos son:
- Estación de prueba de semiconductores (probe station)
- Analizador de parámetros de semiconductores
- Analizador de redes vectoriales
- Difractómetro de rayos-X para polvo
- Microscopio electrónico de transmisión de alta resolución
- Microscopio petrográficos (polarizador) de luz transmitida
- Microscopios ópticos
- Microscopio de fuerza atómica
- Cluster computacional con capacidad de 64 núcleos
- Mini-etalómetro microAeth AE51
- Medidor continuo de concentración de partículas Dustrack 8530II
- Medidor MetOne Particulate Profiler 212-1
- Muestreador electrostático EspNano100
- Muestreador Partisol2000i (exteriores)
- Muestreadores TAS (interiores)
- Sistema de medidas de transporte eléctrico a bajas temperaturas
- Simulador solar
- Circuito ferroléctrico RT66B-Radiant Tech
- Sistema de depósito mediante pulverización (sputtering)
- Sistema de grabado por plasma para microfabricación
- Sistema avanzado de evaporación física
- Evaporador por haz de electrones
- Evaporador térmico
- Reactor de deposición química de vapor (CVD)
- Espectrómetro de Emisión Óptica por Descarga de Gas (GDOES)
- Espectrómetro UV-VIS-NIR
Contáctanos en caso de requerir información sobre alguno de estos equipos u otros que no estén en nuestra lista.
