Primera Escuela de Métodos de Caracterización Avanzada de Materiales reunió a más de 30 participantes de todo Chile en la UC

Entre el 26 y el 29 de enero se llevó a cabo la Primera Escuela de Métodos de Caracterización Avanzada de Materiales en la Pontificia Universidad Católica de Chile, reuniendo a más de 30 estudiantes e investigadores seleccionados entre más de 180 postulantes de todo el país. La iniciativa fue organizada por estudiantes de postgrado y contó con el respaldo de la Facultad de Física UC, el Centro de Investigación en Nanotecnología y Materiales Avanzados (CIEN-UC), el Grupo de Ciencia de Materiales de la UC y la Vicerrectoría de Investigación. La escuela ofreció un completo programa que combinó charlas magistrales, talleres especializados y visitas guiadas a laboratorios de vanguardia, incluyendo instalaciones de microscopía electrónica de barrido (SEM), espectroscopia de fotoelectrones (XPS) y difracción de rayos X (XRD), promoviendo la colaboración entre instituciones académicas desde Antofagasta hasta el Biobío. La actividad incluyó, además, una sesión de póster en la que los asistentes compartieron sus propios proyectos de investigación.

“Estos tres últimos días han sido intensos y cargados de muchísima información, pero estamos muy contentos y satisfechos con los resultados. Esta escuela no solo entregó conocimiento técnico, sino que también nos permitió construir comunidad y fomentar redes de colaboración entre instituciones”, comentó Javiera Monsalve, estudiante de Doctorado de Ingeniería UC y presidenta de la iniciativa.

Entre los expositores internacionales, destacaron, la Dra. Armelle Ringuedé (del Centre National de la Recherche Scientifique CNRS, Francia), experta en caracterización electroquímica, el Dr. Rafael Arenas (ThermoFisher Scientific, México), especialista en microscopía electrónica, y el Dr. Enrique Dalchiele (Universidad de la República, Uruguay), referente en materiales fotoelectroquímicos. A nivel nacional participaron académicos de instituciones como la Universidad de Valparaíso, Universidad de O’Higgins, Universidad Mayor, UTEM y Pontificia Universidad Católica de Chile, entre ellos el Dr. Roberto Villaroel, impartió una clase teórico-práctica sobre análisis e interpretación de espectros XPS, guiando a los asistentes en la comprensión físico-química de los datos; el Dr. Domingo Jullian, de la Universidad de O’Higgins, abordó tópicos relacionados con técnicas ópticas aplicadas a materiales semiconductores; y la Dra. Susana Rojas, de la Universidad de Valparaíso, presentó aplicaciones de caracterización en catálisis y química de materiales.

Desde la Pontificia Universidad Católica de Chile, sede anfitriona, participaron varios expertos en el uso de equipos de caracterización de alto nivel: el Dr. Álvaro Adrian, coordinador de servicios del Centro de Investigación en Nanotecnología y Materiales Avanzados CIEN-UC; la Dra. María Carolina Moreno, de la Facultad de Ingeniería; y los doctores Donovan Díaz, Esteban Ramos y Roberto Rodríguez, todos investigadores del Instituto de Física. Además, el doctorando José Fernández, también del Instituto de Física UC, participó como expositor, compartiendo parte de su investigación en caracterización estructural y espectroscópica de materiales nanoestructurados. La jornada culminó con un cóctel de cierre que celebró la alta participación y dejó abierta la puerta para futuras ediciones.