FESEM – Microscopio Electrónico de Barrido de Alta Resolución
El Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FESEM) disponible en el Centro de Investigación en Nanotecnología y Materiales Avanzados (CIEN-UC) permite la observación y análisis de materiales a escala nanométrica con una resolución superior a la de un microscopio electrónico de barrido convencional (SEM).
Su fuente de emisión de campo (Field Emission Gun, FEG) genera un haz de electrones de alta intensidad y baja dispersión, lo que posibilita obtener imágenes de alta nitidez, incluso a bajos voltajes de aceleración.
El equipo combina modos de operación en alto, bajo y variable vacío, lo que permite estudiar una amplia gama de materiales (metálicos, cerámicos, poliméricos, biológicos o aislantes) bajo condiciones controladas.
El Microscopio electrónico de barrido fue adquirido gracias al financiamiento de FONDEQUIP EQM150101.
Descargar documento “Presentación FESEM FEI Quanta FEG250“
Características técnicas principales
- Modelo: FEI Quanta FEG 250
- Fuente de electrones: Emisión de campo (Field Emission Gun, FEG)
- Rango de voltaje de aceleración: 200 V – 30 kV
- Resolución: hasta 1.2 nm a 30 kV
- Modos de operación: Alto vacío, bajo vacío y ambiental (ESEM)
- Detectores disponibles:
- Electrones secundarios (SE): imágenes topográficas de alta resolución.
- Electrones retrodispersados (BSE): contraste composicional y detección de fases con diferente número atómico.
- Detector de presión variable (GSED).
- Sistema analítico: Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X (EDS), que permite realizar análisis elemental puntual, de línea y mapeo químico (EDS mapping) con resolución micrométrica.
Servicios disponibles
El servicio FESEM del CIEN-UC está orientado a investigadores, estudiantes de postgrado, instituciones externas y empresas, ofreciendo apoyo especializado en:
- Imágenes de alta resolución para análisis morfológico y topográfico.
- Análisis elemental mediante EDS, con identificación cualitativa y semicuantitativa de los elementos presentes.
- Mapeos EDS (EDS mapping) para determinar la distribución espacial de elementos químicos en la superficie.
- Análisis de contraste composicional mediante electrones retrodispersados (BSE).
- Mediciones de tamaño, forma y textura superficial en materiales sólidos, recubrimientos, fibras, películas o polvos.
- Asesoría en preparación de muestras, incluyendo recubrimiento metálico (Au) y secado de punto crítico cuando es requerido.
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Aplicaciones
- Ciencia e ingeniería de materiales.
- Nanotecnología y microestructuras.
- Recubrimientos, películas delgadas y superficies funcionalizadas.
- Catálisis heterogénea y materiales compuestos.
- Geología, minería y caracterización de suelos.
- Polímeros, cerámicos, biológicos y materiales porosos.
Tarifas
Consultar tarifas generales aquí. Consulta por descuentos según afiliación y servicios extensos.
Agenda
Reservar sesión en el siguiente enlace: Agenda FESEM
Puedes participar de forma remota a la sesión a través de videollamada.
Recuerda configurar correctamente tu zona horaria.
Antes de la sesión, completar la orden de trabajo en el siguiente formulario:
Para más información, cotizaciones u otras consultas, contactar a Álvaro Adrián al correo fesemcien@uc.cl o al teléfono (56-9) 5504 1441, horario de atención de lunes a viernes de 09:00 a 13:00 y de 14:00 a 17:30.
Ubicación
